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FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD菲希爾X射線測厚儀：能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀

X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，配有可編程運行的 X/Y 軸工作臺和 Z 軸升降臺，用于自動測量超薄鍍層厚度或進行痕量分析。

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD 是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進行痕量分析。其配備了高精度、可編程運行的 X/Y 軸工作臺，是全自動測量樣品的理想設備。

儀器設計特點

XDV-SDD 設計為界面友好的臺式測量儀器，具備以下特性：

配備高精度、可編程運行的 X/Y 軸工作臺和馬達驅動的 Z 軸升降臺，當具有防護功能的測量門開啟時，樣品臺能自動移出到放置樣品的位置。

通過激光點，可以快速對準需要測量的位置;儀器內置帶有圖像放大及十字線功能的視頻系統，簡化了樣品放置的過程，并可對測量點位置進行精確微調。

測量門向上開啟，采用側面開槽設計。

軟件操作

所有的儀器操作，以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示，都可以通過功能強大而界面友好的 WinFTM® 軟件在電腦上完成。

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD技術參數

元素測定：最多可同時測定從鋁(13)到鈾(92)中的 24 種元素。

工作臺與升降臺：馬達驅動、可編程運行的 X/Y 軸工作和 Z 軸升降臺 。

準直器與濾片：馬達驅動、可切換的準直器和基本濾片。

儀器配置：配備帶鈹窗口的微聚焦鎢管，三擋可調節(jié)高壓，6 個可切換的基本濾片。